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Xradia 510 Versa顯微鏡使用兩級放大技術，實現大工作距離下的高分辨率（RaaD）。首先，樣品圖像與傳統微米 CT 一樣進行幾何放大。在第二級，閃爍器將 X 射線轉換為可見光，然后進行光學放大。Xradia Versa 解決方案降低了對幾何放大的依賴性，因此可在大工作距離下保持亞微米高分辨率，使得對各種尺寸的樣品和原位樣品艙內的樣品進行高效研究成為可能。

蔡司顯微鏡Xradia 610 & 620 Versa 3D X射線顯微鏡在科研和工業研究領域為您開啟多樣化應用的新高度。基于高分辨率和襯度成像技術，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亞微米級無損成像的研究界限。